JCM-6000plus NeoScope™ 臺式掃描電(dian)子顯(xian)微(wei)鏡
掃描(miao)電子(zi)(zi)顯微鏡（SEM）是(shi)1965年發明的(de)(de)較現代(dai)的(de)(de)細胞生(sheng)物學研究(jiu)工(gong)具，主要是(shi)利用(yong)二(er)次電子(zi)(zi)信號成像來(lai)觀察樣品(pin)(pin)的(de)(de)表(biao)面(mian)形態，即用(yong)極狹窄的(de)(de)電子(zi)(zi)束(shu)去掃描(miao)樣品(pin)(pin)，通(tong)過電子(zi)(zi)束(shu)與樣品(pin)(pin)的(de)(de)相互(hu)作(zuo)用(yong)產生(sheng)各種效應，其中主要是(shi)樣品(pin)(pin)的(de)(de)二(er)次電子(zi)(zi)發射。
二次電子能夠產生樣品表面放大的形貌像，這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的，即使用逐點成像的方法獲得放大像。
掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。掃描電鏡的優點是，①有較高的放大倍數，20-20萬倍之間連續可調；②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；③試樣制備簡單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區成分分析，因此它是當今十分有用的科學研究儀器。
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日本電子株式會社（JEOL Ltd., 董事長：栗原 權右衛門）在各地設有服務機構，
能夠迅速、妥善地應對全球客戶的需求。我們的目標旨在為所有顧客提供滿意的、具有一貫服務能力的服務體系。
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JEOL目前面向中國及全(quan)球，生產銷售各型掃描電子顯(xian)微鏡(jing)、透射電子顯(xian)微鏡(jing)、電子探針、掃描探針顯(xian)微鏡(jing)、X射線(xian)熒光(guang)光(guang)譜(pu)儀、核磁(ci)共振設備、質譜(pu)儀、電子自旋振動設備、半導體(ti)制(zhi)造檢(jian)查裝置等(deng)。產品運(yun)用覆蓋了材(cai)料科(ke)學、生命科(ke)學等(deng)學術技術領域，在(zai)(zai)無機、有(you)機化合物、金屬材(cai)料，土(tu)壤，礦產，醫(yi)藥，精細化工，電子材(cai)料，生物樣品等(deng)的(de)定(ding)性和(he)定(ding)量分(fen)析鑒定(ding)上(shang)廣受推崇。在(zai)(zai)中國國內(nei)，眾多重點(dian)實(shi)驗室、科(ke)學院部門、科(ke)研所、大專院校、醫(yi)療機構(gou)、政府機構(gou)和(he)企業單(dan)位(wei)都有(you)JEOL的(de)產品。
JCM-6000plus是最新一代操作簡(jian)單，性能(neng)卓越的臺式SEM，新的操作屏幕和觸控屏帶來了方便的操作體驗，使用起來非常直觀。此外，JCM-6000plus標準配置了低真空模式，還可以安裝EDS等附件，是一款功能豐富的臺式掃描電子顯微鏡。
產(chan)品特點
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響應迅速
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儀器(qi)啟(qi)動后3分鐘就可以顯示出圖像；輕觸(chu)面板就可以進行(xing)高真(zhen)空(kong)/低真(zhen)空(kong)模式間的(de)切(qie)換；一體(ti)化的(de)柵(zha)極，維護非常簡單。
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應用實例
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雖(sui)然是臺式掃(sao)描電鏡，但(dan)具有非(fei)常豐富的(de)功能。
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樣品(pin)：乳酸(suan)菌 15ｋV，×20000
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在固定、干(gan)燥后(hou)進行噴鍍，利用二(er)次電子信號也能在數萬倍的放大倍率下(xia)進行觀察。
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下圖為(wei)紫露草，在(zai)低真空(kong)模式下，未經前處(chu)理進行(xing)觀察的實例(li)。
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紫(zi)露草 15ｋV，×50
