美國Princeton Instruments 公司發揮其幾十年光譜儀器和檢測器的開發技術優勢，開發了三級光譜儀，trivista三級光學工作站，基于美國PI公司三級光譜儀而開發的一套超高分辨，超低波數多功能科學級工作站，廣泛適用于材料分析，光學器件檢測等應用。
概述：
- TriVista 三級顯微拉曼光譜儀，高性能模塊化設計，根據用戶的應用，配置不同的系統，適合各種光學測試（拉曼，熒光，PL，時間分辨光譜，熒光壽命）
- 超高分辨率(0.14cm-1)，超低波數(<5cm-1)，超強的雜散光抑制，高靈敏度
- 加模式，減模式同一光路，軟件轉換模式后，不需要校正光路
- 唯一內置三光柵的拉曼光譜儀，覆蓋UV-IR 全波段，軟件轉換光柵后，不需要校正光路
- 同時觀察斯托克斯-反斯托克斯
- 高通光率光譜儀，焦長可選：500/500/500mm, 500/500/750mm, 750/750/750mm
- 光譜檢測器可配置高量子效率（QE>95%）的CCD，EMCCD，ICCD，InGaAs陣列。也可配置各種單點探測器
- 顯微鏡可配置OLYMPUS BX51 正置或IX71 倒置研究級顯微鏡，XYZ 自動平臺
- 可配置大樣品箱，用戶自有樣品箱，真空樣品箱，高低溫樣品臺，磁場
- 多個狹縫入口，多個CCD 和狹縫出口，可擴展性極強，可耦合拉曼光纖探頭，
掃描顯微鏡
- 穩態激光器，脈沖激光器，OPO 激光器，UV-IR 任意波長
- 可擴展為TCSPC 系統
- 系統設計合理，結構穩定，光路不受溫度影響，不需專業人員維護
技術特點：
1、高分辨率
- 對于半導體壓力/應力、碳納米管，同質異構的多形態現象、精細的鍵合效應等研究，必須使用高色散分光系統，得到高分辨率光譜，以得到更加詳細的樣品信息，發現樣
品拉曼峰的細微差異。
- 小型拉曼光譜儀受到光譜儀焦長和光柵的限制，光譜分辨率通常在0.5cm-1/pixel 到1cm-1/pixel。
- TriVista 系列三級拉曼光譜系統在加模式下，分辨率可達到0.14cm-1/pixel。任何細微的光譜差別，都可精確的分辨。
2、低波數
- 小型拉曼光譜儀作為實驗室通用儀器，使用Notch Filter 或Edge Filter 濾除瑞利線散射光，由于濾光片的技術限制，測量最低頻率在100cm-1 左右，適合于常規樣品的測試。
- 低波數拉曼光譜（0-100cm-1)是一個不可或缺的分析工具，在多個科研領域 ，例如單壁/多壁碳納米管，晶體的晶格振動，聚合物、超晶格半導體材料等，液體，混合物等，幫助確定這些樣品的動態結構。對于這類樣品，只有使用三級拉曼光譜測試系統，用光譜儀的相減模式，濾除銳利線散射光。
- TriVista 系列三級拉曼光譜系統，利用前兩級高性能光譜儀濾除銳利線散射光，低波數測量可到5cm-1 以下。
3、Stokes / AntiStokes
- AntiStokes 散射理論上定義為Stokes 散射的時間反演過程。按照通用的拉曼光譜學理論和試驗，Stokes 和AntiStokes 對稱分布在激發線的兩側，具有相同的拉曼位移頻率。
但這種相等拉曼頻移的規律不是絕對的，在震動拉曼，如CHCl3，碳納米管和單壁碳納米管；電子拉曼CaF2 摻雜鉺；等諸多實例表明Stokes 和AntiStokes 拉曼散射頻移是不同的，尚待系統的深入的研究。
- 由于AntiStokes 強度變化與溫度相關，因此通過計算Stokes 與AntiStokes 的比，可以精確的得知樣品的溫度。
- TriVista 系列三級拉曼光譜儀應用PI 特有銳利線削減技術，不需轉動光柵即可在一個CCD 窗口內，同時得到低波數的Stokes/AntiStokes 拉曼光譜，避免光柵轉動帶來的位置誤差。
- 受激光器的限制，很多用戶對熒光的干擾無所適從，AntiStokes 可以對您有所幫助。
4、系統可靈活擴展
- 三光柵配置，可覆蓋UV-IR 波段。可做熒光，PL，時間分辨光譜，熒光壽命
- 大樣品箱，可放置固體樣品，粉末樣品，薄膜樣品，比色皿池，可做吸收，透射，正反射，任意角度激發
- 異形樣品箱
- 拉曼探頭
技術指標：
