<![CDATA[<small id='0ftGn'></small><noframes id='EIsRa'>]]>
|
|
|
|
|
| <![CDATA[<legend id='GFckp'><style id='BgEtH'><dir id='4CV92'><q id='neo3K'></q></dir></style></legend>]]> |
<![CDATA[<i id='LvNjh'><tr id='rfWWA'><dt id='Lb9SO'><q id='NZTgM'><span id='2uhtV'><b id='s7XOV'><form id='soBaI'><ins id='JzgGq'></ins><ul id='1wTm6'></ul><sub id='xj76S'></sub></form><legend id='Lzr0x'></legend><bdo id='qotxY'><pre id='usiah'><center id='xJ9je'></center></pre></bdo></b><th id='nTm1W'></th></span></q></dt></tr></i>]]><![CDATA[<div id='2mAn3'><tfoot id='Pu60P'></tfoot><dl id='uzm1o'><fieldset id='Ahv3T'></fieldset></dl></div>]]>
|
|
|
|
| | | |
<![CDATA[<bdo id='ZPCS7'></bdo><ul id='uy8gQ'></ul>]]>
|
|
| |
|
|
|
|
| ■當前位置: 首頁 > 公司產品 > 科研級光譜測試系統 > |
單顆粒散射光譜測試系統
作者: kevin 發布于: 2015-10-18 01:06 點擊:次
本系統專為科研用戶設計，系統擴展性好，可以這對不同客戶性能需求更改系統配置，主要用途：測試納米顆粒散射光譜，通過散射光譜測試判斷顆粒大小和形狀。
可測試顆粒最小可達幾十納米，目前主要用戶有：南京大學，華東理工大學，中國科學院應用物理研究所，南京郵件大學等等。
采用nikon或olympus科研級熒光倒置顯微鏡，配合PI公司科研級光譜儀和CCD，采用光譜CCD取微區，可以同時測試多個顆粒。
系統性能：
1、顯微鏡配 10x，40x，60x物鏡
2、光譜分辨率：0.05nm
3、波長范圍：a、單顆粒光譜測試范圍：200-1100nm，整體測試波長范圍：200nm-12um
3、選配電動位移臺
成果展示：
 
|
|
